後方散乱X線スキャナーも、ミリ波センサーと同様に、弱い電磁波(X線)を照射して、X線光子がどのように反射されるかを測定するものだ(旧来のX線装置は、ただ対象物にX線を透過させるのみ)。

このスキャナーを分かりやすく解説した記事から引用する。「元素の周期表における原子番号が小さい(陽子の数が少ない)元素は、X線の光子を非常に強く散乱させる。一方、周期表における原子番号が大きい元素は、散乱させるよりも多くの光子を吸収する傾向にある……ほとんどの有機物は、周期表の始めのほうに位置する。そのため後方散乱システムは、有機物を撮像するのに非常に優れた手法だ。二重エネルギーX線吸収法[骨密度などを測定する手法]よりもはるかに優れている」